電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜法 ，也稱為電感耦合等離子體光學發(fā)射光譜法 是利用通過高頻電感耦合產(chǎn)生等離子體放電的光源來進行原子發(fā)射光譜分析的方法。它是一種火焰溫度范圍為6000至10000K的火焰技術(shù)。該發(fā)射強度表示樣品中元素的濃度。為一種新型激發(fā)光源，性能優(yōu)異，應(yīng)用 。組成主要包括等離子體炬管、高頻發(fā)生器（產(chǎn)生高頻電流）、感應(yīng)圈、供氣系統(tǒng)和霧化系統(tǒng)。炬管由三層同心石英玻璃管組成。外管內(nèi)切向通入的氬氣為等離子體工作氣或冷卻氣。中管通入的氬氣為輔助氣。內(nèi)管中的氬氣為載氣，將試樣氣溶膠引入炬中。原子發(fā)射光譜法原子發(fā)射光譜法（英語：Atomic Emission Spectroscopy，縮寫AES），是一種利用受激發(fā)氣態(tài)原子或離子所發(fā)射的特征光譜來測定待測物質(zhì)中元素組成和含量的方法。為光學分析中較早誕生的分析方法之一，其雛形在1860年代即已形成。上海禹重實業(yè)有限公司是一家專業(yè)提供質(zhì)譜儀的公司，有想法可以來我司咨詢！昆山iCap TQ質(zhì)譜儀報價

氣相色譜儀分析儀器原理介紹禹重分享：1.紫外吸收光譜：縮寫：UV；分析原理：吸收紫外光能量，引起分子中電子能級的躍遷；譜圖的表示方法：相對吸收光能量隨吸收光波長的變化；提供的信息：吸收峰的位置、強度和形狀，提供分子中不同電子結(jié)構(gòu)的信息。2.熒光光譜法：縮寫：FS；分析原理：被電磁輻射激發(fā)后，從 單線激發(fā)態(tài)回到單線基態(tài)，發(fā)射熒光；譜圖的表示方法：發(fā)射的熒光能量隨光波長的變化；提供的信息：熒光效率和壽命，提供分子中不同電子結(jié)構(gòu)的信息。泰州ICPMS質(zhì)譜儀耗材上海禹重實業(yè)有限公司為您提供質(zhì)譜儀，有想法的可以來電咨詢！

質(zhì)譜儀常見問題詳解：氮氣發(fā)生器該使用嗎氮氣發(fā)生器的工作原理是分離空氣，電解膜的負極側(cè)發(fā)生氧化反應(yīng)，“吃掉”空氣中的氧化性氣體，在正極側(cè)還原，空氣流過電解池后就只剩下氮氣和惰性氣體。故國內(nèi)發(fā)生器的純度大多標有“相對含氧量”。氮氣的純度和空氣流速、有效分解面的長度、電解電勢的強弱都有關(guān)系。這種分離方法也決定了氮氣的純度不可能做的很高。加入電解質(zhì)的作用就是提高水的導電率，使電化學反應(yīng)能順利進行。發(fā)生器對質(zhì)譜的影響有一點常常被忽略，就是發(fā)生器內(nèi)的開關(guān)電源工作時會對電網(wǎng)電壓造成一定的干擾（壓縮機的啟動和停止也會）。

質(zhì)譜儀 重要的應(yīng)用是分離同位素并測定它們的原子質(zhì)量及相對豐度。測定原子質(zhì)量的精度超過化學測量方法，大約2/3以上的原子的精確質(zhì)量 是用質(zhì)譜方法測定的。由于質(zhì)量和能量的當量關(guān)系，由此可得到有關(guān)核結(jié)構(gòu)與核結(jié)合能的知識。對于可通過礦石中提取的放射性衰變產(chǎn)物元素的分析測量，可確定礦石的地質(zhì)年代。質(zhì)譜方法還可用于有機化學分析，特別是微量雜質(zhì)分析，測量分子的分子量，為確定化合物的分子式和分子結(jié)構(gòu)提供可靠的依據(jù)。由于化合物有著像指紋一樣的獨特質(zhì)譜，質(zhì)譜儀在工業(yè)生產(chǎn)中也得到廣泛應(yīng)用。固體火花源質(zhì)譜：對高純材料進行雜質(zhì)分析?？蓱?yīng)用于半導體材料有色金屬、建材部門;氣體同位素質(zhì)譜：對穩(wěn)定同位素C、H、N、O、S及放射性同位素Rb、Sr、U、Pb、K、Ar測定，可應(yīng)用于地質(zhì)石油、醫(yī)學、環(huán)保、農(nóng)業(yè)等部門。上海禹重實業(yè)有限公司為您提供質(zhì)譜儀，期待為您服務(wù)！

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質(zhì)譜分析法的特點是測試速度快，結(jié)果精確。 用于地質(zhì)學、礦物學、地球化學、核工業(yè)、材料科學、環(huán)境科學、醫(yī)學衛(wèi)生、食品化學、石油化工等領(lǐng)域以及空間技術(shù)和公安工作等特種分析方面。同位素質(zhì)譜儀同位素質(zhì)譜分析法的特點是測試速度快，結(jié)果精確，樣品用量 少（微克量級）。能精確測定元素的同位素比值。 用于核科學，地質(zhì)年代測定，同位素稀釋質(zhì)譜分析，同位素示蹤分析。離子探針離子探針是用聚焦的一次離子束作為微探針轟擊樣品表面，測射出原子及分子的二次離子，在磁場中按質(zhì)荷比（m/e）分開，可獲得材料微區(qū)質(zhì)譜圖譜及離子圖像，再通過分析計算求得元素的定性和定量信息。測試前對不同種類的樣品須作不同制備，離子探針兼有電子探針、火花型質(zhì)譜儀的特點?？梢蕴綔y電子探針顯微分析方法檢測極限以下的微量元素，研究其局部分布和偏析。可以作為同位素分析。昆山iCap TQ質(zhì)譜儀報價

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